Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
- Авторы:Дмитрий Григорьевич Крутогин, Олег Игоревич Рабинович
- Жанр:Техническая литература
- Страницы: 43
- Формат: fb2, epub, pdf, txt
Советуем прочитать похожую литературу

История и методология науки и техники в области электроники и...
Рассмотрены исторические аспекты становления и развития электронной промышленности как отрасли,...

Материалы и элементы электронной техники
Первый раздел пособия посвящен основным свойствам, характеризующим любой материал, далее следуют...

Метрология, стандартизация и сертификация. Основы метрологии в...
Курс лекций содержит необходимый для изучения раздела «Основы метрологии в электронике»...

Основы технологии электронной компонентной базы. Моделирование...
В пособии излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых...

Физико-химические основы процессов микро- и нанотехнологий
В пособии излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых...

Основы технологии элеткронной компонентной базы
В пособии излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых...
Отзывы (0)
Вам понравилось читать онлайн книгу «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов»? Уделите пару минут, что бы оставить полезный отзыв другому читателю.